Běžně používané detekční přístroje pro analýzu složenínanomateriályzahrnout:
1. ICP (Indukčně vázané plazma): ICP je technologie široce používaná v oblastech analytické chemie a materiálových věd. Lze jej použít ke stanovení obsahu a složení prvků v nanomateriálech. Přeměnou vzorku na plynné ionty a použitím generovaného spektra plazmatu ke stanovení koncentrace prvků. ICP-MS (Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer) kombinuje techniky ICP a hmotnostní spektrometrie k analýze extrémně nízkých koncentrací prvků v nanomateriálech.
2. XRF (X-ray Fluoroskopy): XRF je široce používaná technologie pro analýzu materiálů a nedestruktivní testování. Určuje složení prvků ozařováním povrchu nebo vnitřku vzorku rentgenovým zářením a měřením fluorescenčního záření charakteristik prvků ve vzorku. XRF je vhodný pro řadu nanomateriálů, včetně pevných, kapalných a práškových vzorků.
3. EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy): EDS je technika elektronové mikroskopie, která určuje složení prvků ve vzorku měřením rentgenového záření generovaného interakcí mezi elektronovým paprskem a vzorkem v materiálu. EDS se často používá ve spojení se skenovací elektronovou mikroskopií (SEM) k zajištění analýzy složení povrchu nanomateriálů.
